對于陶瓷電容（通常也稱為MLCC，即多層陶瓷電容），“容差”這一術(shù)語指的是設(shè)備電容與標(biāo)稱值的偏差，這種偏差主要由制造過程中的變化引起。容差是在經(jīng)過專門設(shè)計(jì)的測試條件下進(jìn)行測量的，該過程旨在排除其他因素對指定設(shè)備的測量電容的影響。

將“容差”視作一個(gè)總范圍是一種普遍的誤解。有人認(rèn)為無論在何種測量條件下，測量值都應(yīng)在標(biāo)稱值的規(guī)定容差范圍內(nèi)。許多產(chǎn)品的特性非常穩(wěn)定，因此很容易讓人忽略這一區(qū)別；然而，陶瓷電容并不屬于這類產(chǎn)品。（請注意，那些基于1類電介質(zhì)的陶瓷電容是個(gè)例外；關(guān)于電介質(zhì)分類的詳細(xì)說明，請參閱這篇帖子 。）

然而，許多基于2類和3類電介質(zhì)的陶瓷電容的電容特性極不穩(wěn)定，因此隨意測量往往會得出超出標(biāo)稱值的規(guī)定“容差”之外的電容值。這并不代表產(chǎn)品有缺陷或不合規(guī)格，這只是技術(shù)的性質(zhì)和特點(diǎn)所致。

影響陶瓷電容觀測電容的三個(gè)重要因素可歸納為三個(gè)“T”：測試信號（Test signal）、溫度（Temperature）和時(shí)間（Time）。

首先，測試信號會影響觀測的電容值。舉例來說，下圖展示了直流偏置和交流測試信號振幅對觀測的電容值產(chǎn)生的影響。在這種情況下，稍微改變交流電測試信號的振幅，就會導(dǎo)致觀測的電容值出現(xiàn)-15%到+10%之間的浮動。而直流偏置造成的影響更大；在僅有四分之一的額定電壓的情況下，設(shè)備的電容會降低一半。對于那些認(rèn)為所有偏差都不會超出標(biāo)稱的+/-10%容差值的人來說，這可能會讓他們大吃一驚。

其次，溫度也是影響電容的重要因素。下圖展示了幾個(gè)具有不同溫度特性的電容系列的電容隨溫度變化的例子。除了1類電介質(zhì)（C0G）設(shè)備外，在那些工作溫度有顯著變化的應(yīng)用中預(yù)期的最小變化幅度約為10%。請注意，該圖只說明了溫度的影響：其他因素也會進(jìn)一步增加所觀測的電容值的變化幅度。同樣地，對于那些認(rèn)為所規(guī)定的“容差”是一個(gè)總體概念的人來說，這也可能是一個(gè)不受歡迎的意外現(xiàn)實(shí)。

最后，時(shí)間也是影響陶瓷電容的一個(gè)因素。陶瓷電容（同樣排除1類電介質(zhì)）會出現(xiàn)老化現(xiàn)象，即，其電容會隨著時(shí)間的推移逐漸減少。這種影響的程度取決于材料并且是不斷累積的，通常高達(dá)每十倍時(shí)幾個(gè)百分點(diǎn)。這篇帖子 13更詳細(xì)地描述了這種影響。時(shí)間因素可以增加或掩蓋其他因素對所觀測的電容值的影響（依據(jù)具體情況而定）。無論如何，當(dāng)“容差”被誤解為一個(gè)總范圍時(shí)，這本身就會導(dǎo)致設(shè)備表現(xiàn)出超過容差范圍的情況。

綜上所述：

“容差”僅表示一個(gè)會影響陶瓷電容觀測值的因素，而非所有因素的總和。

這些其他因素所造成的影響可能遠(yuǎn)大于指定的容差值。但這并不能被視為產(chǎn)品缺陷或不符合產(chǎn)品規(guī)格。

使用的測試信號、設(shè)備溫度和設(shè)備最后一次去老化后的時(shí)間都會影響陶瓷電容的觀測電容。所有這些因素都必須符合廠商的測試條件，以便進(jìn)行有效的電容測量，從而最終確定該電容是否符合廠商的規(guī)格。

許多萬用表上的電容測量功能并不能有效地確定產(chǎn)品是否符合廠商的規(guī)格。

如果您需要一個(gè)已知的穩(wěn)定電容，根本不用考慮基于1類電介質(zhì)（C0G或NP0最為常見）以外的陶瓷電容。

本文講的是陶瓷電容的測量技巧，避免容差和其它因素的影響。如果你們需要采購原裝村田貼片電容、村田電感、村田熱敏電阻等等，可以聯(lián)系村田中國一級代理商智成電子，電話是18923419196，微信同號。選擇智成電子，你們將得到原裝正品的村田電容、村田電感和村田熱敏電阻以及專業(yè)的技術(shù)支持。